二手 ACCRETECH / TSK UF 2000 #9234261 待售

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製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 2000
ID: 9234261
优质的: 2007
Prober Docked: ST6730A Probe card: Auto card changer Manipulator: HF: MHF4000S Chuck stage: Chuck: Ni Temperature: Hot chuck Temperature range: 30° C ~ 150° C Needle cleaning: Cleaning unit Size: 200 x 100 Tester I/F: GPIB CPU Type: 7509 Ethernet OCR Board configuration: Slot / Board 1 / VME7509 Master CPU 4 / TTL/GP-IB 6 / MR-MC01-S101 SSC NET 7 / DAKT-04 2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000是一种专为晶圆故障分析、晶圆预磁带设计和自动化测试而设计的prober。该设备构建在模块化平台上,为生产线提供了灵活性和可扩展性。该系统具有一个映射单元,该单元自动检测探测器位置,并通过使用前向映射扫描自动校准晶圆映射。集成探针机具有高精度探针(最大0.2 µm精确度)和一些下游特性,如手动覆盖、X-Y行程、摆动和扫描位置调整。该工具还包括一个强大的图像处理算法,用于检测探针尖端形状,并对接触面和非接触面执行自动保护带。该算法使用静态和动态扫描方法的组合来识别和隔离上模垫几何形状、接触点、保温层和接触区域。这有助于提供非接触式探测功能,并降低触摸电路和造成损坏的风险。该资产允许对来自各种半导体器件的晶片进行手动或自动测试。在设置晶片对齐和探测后,TSK UF 2000可以在用户干预最少的情况下从头到尾运行序列。该模型可同时探测多达106组500针晶片。该设备的自动化模型能够以更高的准确性和可重复性减少总测试时间。该系统还与现有设备集成,为整个晶圆测试过程创建完整的自动化解决方桉。ACCRETECH UF 2000的综合功能使其成为晶圆故障分析、预磁带设计和自动测试应用程序的理想工具。它可靠、易于使用和高度可定制,为晶圆探测、处理和测试提供了经济高效的方法。
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