二手 ACCRETECH / TSK UF 2000 #9399175 待售

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製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 2000
ID: 9399175
优质的: 2010
Prober Docked: Hinge Automatic probe card HF: MHF4000S Chuck stage: 120 kgf Chuck type: Nickel Hot chuck Temperature range: 30°C - 150°C Needle cleaning: Ceramic Cleaning unit size: 110 x 205 Tester I/F: GPIB CPU Type: ADVME 7509A Ethernet OCR: Type 6 Board configuration: 1/4/6/7 2010 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000是一种通常用于分析电气和物理半导体晶圆特性的prober。它能够探测直径达200毫米的晶片,具有高度的精度和可重复性。该设备还可用于测量参数化、晶片化和探针卡性能。为了充分了解TSK UF 2000的工作原理,熟悉系统的组件非常重要。主要组件为XY线性级、电动Z级、带CCD摄像机对准的视觉单元、用于对准的prober臂、用于探测的prober头以及可由主机PC通过串行端口控制的prober接口。ACCRETECH UF2000机设计用于主动探测,可以自动移动到所需的位置并进行接触。该工具还允许手动探测和对齐。电动Z级可用于控制装置表面与探头之间的间隙,从而保持均匀接触。利用CCD相机的视觉资产来检测设备和晶圆表面,而prober head则用来检查设备上的测试触点并收集数据。在主机PC的控制下,可以手动移动或自动操作prober头。此外,还使用prober接口板将prober头连接到主机PC。ACCRETECH/TSK UF2000模型允许直接探测具有主动参数测量的接触点,以及探针卡测试和接触电阻测量。此外,设备还配备了Test Ace和DC/AC Test Pro.等多种软件工具,可用于编程测试和测量电压、电流、功率和电阻等参数。总体而言,ACCRETECH UF 2000是一款功能强大且用途广泛的处理器,可用于半导体器件的各种测试操作。该系统配备了容易对准、电动Z级、主动探测、参数测量等多项功能,能够高效执行可靠的测试操作。
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