二手 ACCRETECH / TSK UF 200A/AL #9395547 待售

ACCRETECH/TSK UF 200A/AL是一种用于测试各种半导体基板的载体。它为晶体管、电容器和栅极结构的精确可靠的测量提供了先进的功能。TSK UF200A/AL配备了高性能的prober head、激光划线铝探针卡和开环间隙控制。这些组件与高性能光学器件和强大的电动机一起,为精确探测高达5 μ m的设备提供了极好的组合,而且对准问题最小。另外，有了内置的力控制，它可以处理范围广泛的装载力，从0.1到10g不等。ACCRETECH UF 200AAL还提供了可选的集成晶圆表征系统,使用户能够快速分析信号性能,而无需复杂的外部仪器连接。这为测量输出和设备特性（如可编程逻辑和内存设备）提供了改进的测试环境。为方便起见,UF 200 A/AL配备了集成的XY表。这允许用户轻松地移动和定位探头下方的晶片，提供了一个优越的对准和放置探头跨越晶片。这样可确保每个设备的测试结果准确且可重复。为了确保安全和设备保护，ACCRETECH UF 200 A/AL配备了高压保护电路。这样可以防止因过电压而损坏探针卡和晶片。此外,Intelligent Status Monitor系统允许用户监视状态和参数,为诊断问题和确保最佳操作提供可靠的工具。此外,UF 200A-AL还附带一个易于使用的软件包,允许用户创建测试程序并将探测器与晶圆对齐。这将创建一个用户友好且高效的测试设置,从而确保快速而准确的结果。总体而言，ACCRETECH/TSK UF 200 A/AL为半导体晶圆探测和测试提供了一个强大而可靠的解决方桉。其先进的特点，如高性能前置头、激光划线铝制探针卡、开环间隙控制、力控制、集成XY台、高压保护电路等，为改进测试环境，完成困难的测试任务提供了便利。这与集成的表征系统和用户友好的软件包相结合，使UF 200A/AL成为测试和探测半导体基板阵列的理想选择。