二手 ACCRETECH / TSK UF 200A #9171753 待售

ACCRETECH/TSK UF 200A是为测试半导体元件而设计的prober。这种设备是一种全自动表面分析工具，能够测量任何被测设备（DUT）的物理特性。这包括表面形态、薄片阻力和薄膜特性。所有的测量都是在实时和验尸模式下进行的，验尸模式以图像分析为特色，以便提供更多的细节。TSK UF200A配备了高分辨率、高速光学显微镜系统，可以对广泛的样品进行分析。这包括设备表面的保护层和非保护层，以及碳和金属纳米层。该显微镜系统能够测量表面粗糙度、地形特征和表面能量等样品参数。为了便于进行这些测量，ACCRETECH UF 200 A配备了大功率激光，提供必要的照明。ACCRETECH UF 200A还具有用于测量各种表面特性的多种探针选择。这些探头的尺寸从0.4mm到200mm不等，可以测量温度、表面电荷动力学、腐蚀和电导率等特性。该设备还具有探头和样品表面的双模保形涂层,可同时进行接触和非接触测量。为确保最高精度,ACCRETECH/TSK UF 200 A配备了几种不同的传感器,与被测样品相互作用。这些包括电阻、电容、光电和感应传感器。该设备还提供了一个全面的分析软件包，允许自定义参数分析，包括统计分析。UF 200 A设计用于半导体工业，可用于生产的研究和制造阶段。ACCRETECH UF200A具有全面的功能集和多用途探针,是评估任何给定DUT物理特性的有效工具。