二手 ACCRETECH / TSK UF 200D #9118412 待售

ACCRETECH/TSK UF 200D是用于晶圆测试和计量应用的最先进的prober。设计用于硅晶片和非硅晶片的探测、制图、分析和检验。TSK UF 200D是一种全自动探测系统，可以精确测量晶圆表面独立映射区域上设备的电气特性。它具有高吞吐量、高可靠性的测试过程，能够在单个晶圆图中测量多达七个不同的电气参数。ACCRETECH UF 200D在探测能力方面提供了多种选择,提供了卓越的测试精度和灵活性。它配备了双传感器配置，允许晶片面积最大7英寸，以及一个两级传感器头，可以在晶片表面以200 µm的最大Z轴移动。这允许探测各种大小和间距,以及各种测试结构和不同类型的结构,如软颠簸和高长宽比特征。Prober还包括一个晶圆厚度监视器，用于测量0.3至1.2mm范围内的晶圆厚度。UF 200D还提供各种测试选项,例如电气IV、C-V或泄漏电流测试。它具有一个加速器盒，可以减少环境对电气特性的影响，给测试结果带来很高的稳定性。晶圆映射过程是通过一个专有的软件系统完成的，该软件系统控制prober head的移动并确保质量映射和测试性能。该系统还配备了晶片卡盘，允许快速、精确的受控样品放置。ACCRETECH/TSK UF 200D是为可靠和可重复的性能而设计的。它配备了硬件和软件功能,可提供自我诊断和维护功能,从而最大程度地减少停机时间并提高流程吞吐量。它还通过了质量保证ISO9000和ISO9001标准的认证。总体而言,TSK UF 200D prober为运行质量测试过程提供了准确、高效和可靠的解决方桉,并在最短的时间内提供了质量结果。它用途广泛，可以处理各种探测应用，并为晶圆的测量和测试要求提供最大的灵活性。