二手 ACCRETECH / TSK UF 200R #293591573 待售

ACCRETECH/TSK UF 200R是为满足现代半导体器件生产和先进研究的需求而开发的高性能晶圆载体。TSK UF200R prober是一种自动化的多功能设备，可用于检查和测试范围广泛的半导体器件，从超灵敏的MEMS器件到复杂的高级晶圆组件。ACCRETECH UF 200 R具有先进的五轴机构,在其整个工作区域提供卓越的精度和高速探测。该系统允许高速探测任何测试结构,而无需手动调整探测器对准。有了可选的光学计量单元，ACCRETECH/TSK UF 200 R可以精确测量长达八微米的距离。UF 200R先进的光学计量机由一个可定制的测量区域组成，用超精确的非接触式像素驱动激光工具测量。ACCRETECH UF200R还具有集成的自动变焦变焦资产,该资产在测量时会自动放大感兴趣的区域。该模型还提供了先进的定量微观检查能力，允许以高达500倍的放大倍数捕获锐利的图像。UF 200 R用途广泛,能够容纳各种探头配置。它可用于测试平面设备和3D设备,并选择探针集,包括悬臂探针、平行接触探针或晶圆级凸点探针。这样可以确保任何测试配置的最佳探测解决方桉都可用。它还支持广泛的晶圆尺寸和基板，包括GaAs、SiC和InP。此外，TSK UF 200R提供集成的机器视觉设备和集成的CCD摄像头，允许对测试结构进行全自动目视检查。它还支持一系列成像选项，包括明暗场测量、对比度控制和偏振成像，以及全白光干涉测量。ACCRETECH UF 200R通过开放接口（包括多种通信协议）易于控制和自动化,使用户能够轻松地将系统集成到现有生产线中。最后,UF200R采用高质量的组件构建,并由全面的技术支持团队提供支持,确保了可靠的运行和卓越的性能。为了满足最苛刻的要求,TSK UF 200 R是市场上用于探测和测试半导体器件的顶级单元解决方桉之一。