二手 ACCRETECH / TSK UF 200R #9269335 待售

ACCRETECH/TSK UF 200R是一种专用探针扫描电子显微镜（SEM），旨在为故障分析、材料表征和过程监测提供高分辨率成像。其集成的数字电子和用户友好的操作使得TSK UF200R许多SEM应用的理想选择。ACCRETECH UF 200 R提供高达150nA的电子束电流、1.7nm的源点分辨率、高达20,000X的放大倍率和高达10mm的视野的检测系统。它还配备了瞄准光束导轨和数字标线，可以让用户轻松定位感兴趣的区域。它还可以对LOD为20nm的200 nm厚的样品进行成像。TSK UF 200 R还具有可变角度倾斜级,能够进行广泛的角度测量。它包括一个能准确快速记录数据的集成测量系统，并允许用户选择样本厚度、观察模式、绘制表格，以及在各种激发模式之间进行切换--所有这些模式都来自同一接口。此外，UF 200 R附带了全面的成像和分析包，包括图像编辑器、标记、质量检查、光谱分析、电影效果、色彩控制。它还提供了广泛的分析工具，用于进行X射线微分析、光学压缩、元素映射、图像对比度增强等等。ACCRETECH/TSK UF 200 R能够轻松高效地执行甚至最复杂的SEM成像和分析任务。其紧凑的设计、高速扫描和精密的软件使其成为质量控制、故障分析、材料表征和过程监控的理想工具。