二手 ACCRETECH / TSK UF 200S #9270790 待售

ACCRETECH/TSK UF 200S是一种原子力显微镜（AFM），用于探测纳米级材料的结构。TSK UF200S是一种高分辨率、低噪声的AFM，样本量大，适合在半导体、生物和材料研究中应用。AFM的设计目的是以高精度测量纳米级特征的尺寸。ACCRETECH UF 200 S配备高速ZDrive。此功能可实现快速的样本扫描和改进的时间分辨率。ZDrive还用于控制扫描参数，允许用户进行快速准确的测量。此外,ACCRETECH/TSK UF 200 S具有高探针分辨率和低噪声结构,使用户能够精确测量高度和宽度高达几纳米的特征。UF 200 S的另一个特点是其高品质的成像能力。AFM使用悬臂探针，具有单一像素分辨率成像。该系统能够非常精确地产生纳米结构的图像。此外，AFM还有一个集成的热室，可用于通过监测材料的温度剖面来研究材料的热特性。UF200S还拥有一个高级软件套件,可提供各种功能来操作和分析AFM映像。此软件允许用户轻松测量和分析地形特征,如表面粗糙度、步长和轮廓以及线宽。此外，软件还提供了傅立叶变换、Z-平均、线轮廓拟合等高级分析工具。最后,ACCRETECH UF200S非常适合高吞吐量应用。这是由于它的自动扫描工作流使快速分析大量样本成为可能。此外,AFM还具有各种硬件组件,可实现高效的数据采集,从而使用户能够节省时间和资源。总体而言，TSK UF 200 S是一种先进的AFM系统，设计用于测量纳米级特征。其高精度和分辨率使其适合于材料、生物和半导体领域的研究应用。此外,它的自动化工作流和高级软件使其非常适合高吞吐量应用。