二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9274669 待售

ACCRETECH/TSK UF 200SA是一种用于分析和测量半导体器件电气特性的仪器。它配备了一层到一层的测量设备，利用各种不同的探针具有高精度的测量系统。该prober能够对半导体元件、复杂组件、模具、凸点和封装等各种样品进行测量。Prober由几个不同的部分组成，它们一起工作以达到期望的结果。该单元的核心是TSK UF200SA prober,它包括两个定位驱动器,允许探头在样品上精确移动x和y。此外,该探测器还包括一台高频测量机,它利用交流和直流电流、电压和电阻测量来检测样品电气特性的小偏差。ACCRETECH UF 200 SA prober还包括一个扩展的探针和尖端选择库,允许使用一系列探针选项。无论是测量单层、多层、颠簸还是封装,Prober都包括大量的探针和提示,以确保分析成功。探头保持并且可以从样品中提起测试探头,而无需手动操作。这种多尖端加载技术可以在不增加重新定位测试引脚的时间和工作量的情况下测量多达200个设备阵列。Prober还具有集成的视觉工具,可以使测试探测器与匹配的站点保持平稳和准确的对齐。资产使用CCD摄像机通过对每个设备板进行成像并将图像与prober的库匹配来识别样品。可以在prober的软件中轻松加载和修改CAD示例。此外,集成成像模型还可以通过将CCD图像与参考样本进行比较来检查和检测大面积的缺陷。最后,UF 200SA还包括一个灵活的软件平台,用于创建测试数据、分析和存储数据以及快速高效地评估结果。该软件与各种可用于分析、建模和报告测试结果的软件包兼容。此外,用户还可以连接到外部计算机,从而可以进一步分析数据。UF200SA是一种高度精确且用途广泛的探测器，旨在测量半导体器件的电气特性。探头、提示、视觉设备的广泛选择，加上强大的软件平台，确保每次都有一个成功的分析和可重复、准确的测试数据。