二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9283907 待售
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ID: 9283907
优质的: 2006
Prober
Platform: J750 / J750 EX
OCR Type: Type 4
Chuck
Temperature: 30°C - 150°C
Tray module: Tray
Clean unit, 2"
Docking type: J750
Docking kit: TERADYNE K Dock
PMI Function: PMI I
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA是一种高性能、经济高效的3D非接触表面和光学载体。它是广泛的半导体、MEMS和光电检测计量应用的理想工具。TSK UF200SA设计用于对超平坦曲面和高纵横比特征进行完整的串联3D非接触测量。ACCRETECH UF 200 SA具有集成的先进光学和照明设计，提供卓越的分辨率和准确性。近红外光学器件能够测量最小光斑尺寸为2.5 μ m、可重复性为0.5 μ m或更高的特征。它还采用了创新的3D扫描激光自动对焦，使得测量高长宽比、大步高、高可重复性成为可能。ACCRETECH/TSK UF200SA配备高速数据采集和处理控制器。它可以捕获数据点的速度比传统的配置文件快70倍,同时保持极高的分辨率。可以使用内置的轮廓和线分析特征进一步处理这些信息。这些功能的结合使UF 200 SA能够在各种应用中跟踪公差极为严格的系统。UF200SA易于使用和编程,并且与许多行业标准的计算机和操作系统兼容。它包括一个直观的图形用户界面，允许快速高效地开发自动化的测量和分析程序。ACCRETECH UF200SA是满足您所有光学分析器需求的绝佳工具。凭借其先进的光学和照明功能以及快速的数据采集和分析功能,您可以快速轻松地捕获、测量和分析数据。它内置的轮廓和线路分析功能使其成为精确、非接触表面和光电子检查和计量应用的完美工具。
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