二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9314157 待售

ACCRETECH/TSK UF 200SA是一种计量仪器，设计用于对小至150纳米的半导体材料和器件进行精确的非接触测量。这种prober结合了高速和卓越的精度在高度和平面扫描的独特组合。TSK UF200SA旨在满足半导体产量提高和可靠性监测的关键要求。Prober有灵活的设计，可以与各种基板和装置一起使用。ACCRETECH UF 200 SA具有工业级、无油的空气轴承系统,可快速、准确地定位探头尖端,前后距离超过200,000次/秒。探针的进/出运动以20纳米为增量可控，总行程范围为0.2mm。这使得prober能够准确测量基板和设备的3D形状和曲面,而无需接触。UF 200SA prober配有CCD相机，用于定位基板上的地标，准确定位探头。相机的分辨率为3.2 μ m/像素，能够识别和测量基板表面非常小的细节。干涉成像技术（IFI）用于测量和分析基板的3D形状，从而能够准确测定表面粗糙度。UF200SA配备了多种软件功能,可精确测量各种半导体相关特性,如共面性、剖面图、振动分析、对准、倾斜和失真。Prober还具有自动校准和对准功能,以确保精确测量。其他功能包括实时数据收集、实时显示和数据分析功能。TSK UF 200 SA为测量半导体材料和器件的物理特性提供了高速、精确、可靠的解决方桉。它得到了功能强大、用途广泛的软件应用程序的高度支持，能够快速测量和分析基板和设备。ACCRETECH UF 200SA prober用于许多行业，包括半导体生产、汽车、光纤行业等等。