二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9314178 待售

ACCRETECH/TSK UF 200SA是一种促进使用扫描声学显微镜对晶圆样品进行高效和精确的非接触测量的载体。它提供高达0.01微米精度的测量能力，能够对超声波图像进行精确的自动非接触晶圆映射。Prober提供了一个独特而通用的体系结构,易于使用和维护。其用户友好的触摸屏界面允许直观操作。TSK UF200SA还提供精确、可编程的样品和探头定位，在测量中允许精确的准确性和可重复性。它配备了先进的、闭环的、自动化的样品和样品机制，允许精确定位样品和探测器，并具有可重复的精确度。ACCRETECH UF 200 SA具有多种测量能力，包括自动化采样和调谐、晶圆映射和缺陷映射、迭加测量和背面声反射率测量。它具有扩展的焦点深度,允许在其整个视野中统一收集数据。Prober还有一个外部同步脉冲输出，允许在不同的测量中精确关联时间。ACCRETECH UF 200SA具有提供信号稳定性的嵌入式控制器和信号调节系统。其控制信号在机上生成，在800MHz到8GHz以上的频率下与信号特性匹配，提供了出色的信号稳定性和重复性。其先进的功能集提供了精确控制信号调节的能力，实现了高通量的测量。TSK UF 200SA有一个集成的嵌入式计算机，支持数据采集、分析和显示所需的处理器和软件。嵌入到prober中的操作系统提供了多种功能,包括易于编程和大内存容量。此外,它还支持各种标准软件应用程序,从图像处理到实时控制。TSK UF 200 SA还配备了强大可靠的硬件平台，为数据采集和分析提供了绝佳的操作环境。它提供高速数据采集和信号调节系统的实时控制。它具有用于远程控制的以太网接口、用于显示结果的VGA输出端口和用于数据存储的USB端口。总体而言，ACCRETECH/TSK UF200SA是晶圆样品非接触测量的绝佳指标。它易于使用的接口、先进的信号调节和嵌入式控制器使其成为研究、半导体和电子测试中精确测量的可靠、通用的工具。