二手 ACCRETECH / TSK UF 300 #9221039 待售

ACCRETECH/TSK UF 300是为半导体晶圆的生产和测试而设计的prober。它能够执行各种功能,包括晶圆样品测试、故障分析和数据记录。TSK UF 300具有10纳米的精度，最多可同时支援8个晶圆。Prober具有模块化设计,可轻松升级,并能够轻松定制Prober以适应特定应用程序。它也是为快速周转时间而设计，其次秒后检索速度。ACCRETECH UF 300的样品测试系统能够执行精确的电气参数测量，包括电阻、电容、电感和电压。它具有内置的自检诊断,可以检测任何电气故障或异常。它还具有广泛的自动化操作，如自动晶片对准、晶片探测、数据记录、go/no-go测试结果和目视检查。prober上的故障分析系统能够提供晶圆上可能存在的任何故障的详细分析。使用自动CCD摄像机创建故障的详细图像,然后将其用于进一步分析。Prober还具有自动化缺陷分析功能，内置算法用于检测和表征各种缺陷类型。UF 300具有许多数据记录和分析功能,能够捕获和分析来自晶圆的大量数据。然后可以存储这些数据以进行进一步分析或用于检测趋势或模式。它还具有内置脚本工具,可以自动执行某些数据记录操作。ACCRETECH UF 300是一款可靠、用途广泛的prober，适合在多种应用中使用。它的模块化设计和广泛的功能使得在各种生产和测试环境中定制和使用变得非常容易。它能够精确测量各种电气参数，进行自动晶圆探测和分析，处理大量数据，使其成为半导体行业的理想工具。