二手 ACCRETECH / TSK UF 300 #9281378 待售
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已售出
ID: 9281378
优质的: 2001
Prober
Chuck type: Gold
Chuck size: 8"-12"
E2 Camera
Loader
Temperature range: Ambient +150°C
HINGE MHF250 Manipulator
GPIB
Needle alignment
Auto needle height
Auto alignment
XY Position accuracy: ±1µm
No manipulator and inking
No chiller
No docking kit
No head plate
No OCR
No clean pad
2001 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 300 prober是一个前沿半导体探测站，设计用于全面的表面分析。通过一系列精确的步骤，TSK UF 300对半导体晶圆表面的微量和纳米级结构进行了高质量的成像、可视化和快速测量。ACCRETECH UF300涵盖了从低级电气测量到演示光诱导的步进和检测的各个方面,是一个强大的推进器,能够探索最复杂的策略和组件。UF 300以12或14 GHz示波器为核心组件,能够以超高分辨率进行阻抗测量。Prober还针对自动化操作进行了优化,具有用于高速图像处理的高性能计算引擎。其扫描仪，包括Passport- VL扫描仪和Passport- TW扫描仪，以前所未有的精确度和更快的标本登记促进了成像的增强。除了prober功能外,ACCRETECH/TSK UF300还提供了一系列功能,例如可变环境温度控制、范围更广的晶圆级可用性以及易于使用的软件界面。其HF纠错机制在监视器上显示校正信息，确保精细结构的准确性得到提高。对于最苛刻的需求,UF300还具有多种自动化的附件功能,使自适应探针测试能够满足各种工艺条件。自动对焦测量和校准功能可用，ACCRETECH UF 300可以高速、高精度的方式进行LED晶片识别。TSK UF300是研发团队的理想解决方桉,可有效控制半导体生产过程的质量,并提供各种成像、可视化和分析功能,以实现设备的快速测试和测量。Prober还具有远程监视功能,允许在恶劣的环境中运行。最终,ACCRETECH/TSK UF 300拥有一个安全可靠的平台,可以通过各种测试应用程序进行操作。
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