二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621713 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 3000
ID: 293621713
晶圆大小: 12"
优质的: 2006
Wafer prober, 12" Process: V5400 Hot air Load port ATT A300T Air cooled chuck X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C) X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z Axis control accuracy: ±2 µm Stage durability: 200 kgf Does not include Hard Disk Drive (HDD) Power supply: 120 AC, Single phase 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000是一种用于精密电子元件电气测试的prober。该装置用于质量保证和生产监测过程。它具有3D模式识别设备,可以检测元件位置和对齐方式,并且可以检测微小的短缺、元件的错位以及精细的机电设备中的其他异常。Prober能够高速运行,吞吐量高达每小时600晶圆。它配备了自动化晶片处理和晶片加载系统,允许快速的产品周期时间和增加的吞吐量。该设备由一个固定基座和一个x/y轴系统组成,该系统允许广泛的运动范围。该探头可精确测量40 mm范围内的元件,可根据测量范围和精度进行调整。此外,它还能够手动或自动检查和测量分辨率高达14纳米(nm)的零件。Prober配备了一个可以检测是否存在微短缺的AccraGaugeTM光学测量单元,并配备了AccraVisionTM软件,可以提高测试的效率和准确性。Prober还配备了包括高速相机、表面照明以及广泛的一组参数设置的视觉机器。AccraVision软件允许操作员指定某些功能大小、检测位置和公差,以便设备能够准确检测正在测试的组件中的任何异常。AccraGauge工具使用3D矢量映射来精确测量元件上特征之间的3D距离,并创建元件曲面的映射。Prober专为高水平的精密元件而设计,有三种外形规格可供选择:1 up低调、2 up中高或3 up高调。它还提供了一个内置的晶圆提升过程,允许操作员访问晶圆的角落和晶圆中有问题的区域,以访问细腻或晦涩的组件。该prober的输出既是实时在线的,也可在线下进行进一步分析和审查。该prober设计用于精密电子元件的测试和电测量,是对元件和组件进行质量保证和生产监控的理想工具。除了功能和检测能力外,它还为用户提供了一个强大可靠的测试组件的平台,具有较高的吞吐率和内置的自动晶片处理和晶片加载。
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