二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621718 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 3000
ID: 293621718
晶圆大小: 12"
优质的: 2006
Wafer prober, 12" Process: V5400 Hot air Load port ATT A300T Air cooled chuck X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C) X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z Axis control accuracy: ±2 µm Stage durability: 200 kgf Does not include Hard Disk Drive (HDD) Power supply: 120 AC, Single phase 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000是一个利用接触技术和非接触技术来提供有效的计量解决方桉的专家。它检查高级和旧式IC和设备包的各种参数,例如电气性能和缺陷。TSK UF 3000通过先进的光学计量技术为用户提供了最大的准确性和可靠性,并具有检查各种厚度和形状的样品的能力,非常适合先进的晶圆验收、过程控制和故障分析。ACCRETECH UF3000使用晶圆对准系统,该系统设计用于准确查找和校正样品的模具位置和倾斜角,以确保可能的最佳测试结果。该探测器采用了一系列接触和非接触技术,包括光学、电气和真空探测。光学探测器使用无损紫外线激光器进行显微镜测量,表征几何参数,如轮廓、台阶、高度和孔位置。电气探头使用自动化的prober工具来测试接触垫的电气参数。ACCRETECH UF 3000具有自动晶片装载机和卸载机,可快速进行样品装入和提取。Prober附带一个用户友好的GUI,旨在使导航更加轻松快捷。可通过GUI控制变量数组和可编程测试设置,从而提高整个设置的灵活性。Prober还有一个集成的检查库,以帮助存储测试程序并提供访问它们的简单方法。ACCRETECH/TSK UF3000能够同时对多个样本进行多任务处理和测试,从而以最小的误差快速生成结果。探头通常装有加压空气,以确保最小接触力和提高可靠性。Prober还可用于各种环境,包括洁净室、实验室或生产线。TSK UF3000的精度、速度和可靠性使其成为晶圆验收和提高模具产量的理想解决方桉。
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