二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621719 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 3000
ID: 293621719
晶圆大小: 12"
优质的: 2006
Wafer prober, 12" Process: V5400 Hot air Load port ATT A300T Air cooled chuck X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C) X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z Axis control accuracy: ±2 µm Stage durability: 200 kgf Does not include Hard Disk Drive (HDD) Power supply: 120 AC, Single phase 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000是为晶圆检查和半导体器件电气表征而设计的自动化prober。此工具非常灵敏,即使在高温下也能检测到微小的变化。利用先进的多探测器运动控制,用户可以在可变温度下快速准确地映射设备的不同区域。TSK UF 3000最多支持16个探测器,允许每个探测器同时测试独立的设备。整个系统与TSK WaferScan软件无缝集成,使用户能够快速测量和分析收集到的数据。ACCRETECH UF3000提供了不同温度范围的选择,这有助于加快过程。它还包括许多不同的探头,允许用户以不同的角度和位置与设备进行接触。温度范围可以精确控制,可以达到-50°C至+400°C的极端温度。该工具还设计用于注入信号能量,并在纳秒内测量电路响应以进行动态设备表征。TSK UF3000通过支持软件和高速信号处理,提供了前所未有的准确数据和性能。它具有广泛的管理功能来管理测试程序,包括信噪比、限制器和可调节的动态范围。它还具有快速互换的适配器板,允许快速、轻松地更改测试配置。ACCRETECH UF 3000提供高精度的探针运动控制和Z高度控制,精度极佳。此工具适用于晶片级格式和模具级编址。它通过自动数据记录系统提供强大的分析和记录功能。对于可重现的高精度结果,UF3000是理想的工具。其强大的设计和尖端的技术使其成为动态半导体零件严格检查和电气表征的理想解决方桉。
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