二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9268173 待售

看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 3000
ID: 9268173
晶圆大小: 12"
优质的: 2005
Prober, 12" Single side loader Overall accuracy: Within 4 μm Stage positioning accuracy: 2 μm / φ300 mm Z-Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z-Axis control accuracy: ±2 μm Stage durability: 200 kgf Chuck type: Hot chuck Low noise, 12" Temperature range: +40°C to +150°C MHF4000 Hinge and Floppy Disk Drive (FDD) Does not include: Chiller Hard Disk Drive (HDD) 2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober是一款独立的溷合晶圆Prober,设计用于测试尺寸不超过6英寸的半导体元件。它具有内置测量设备和3轴高分辨率级,可调定位分辨率为0.5 µm。该prober能够在一系列环境中对电子元件进行高速测试,以及可重复性和准确性。它还提供自动校准、自动对准和自动测量功能,以实现测试参数的精确可重复性。该处理器的核心是其强大、集成的数字控制系统,该系统具有集成的、电机驱动的3轴舞台运动,使TSK UF 3000 Prober能够最大限度地提高实验室的工作效率。它还具有手动控制或远程PC控制的灵活性,为任何测试过程提供易于使用的接口。Prober最多支持四个测量系统来支持多种类型的测试,从而消除了对具有专用测试的多个探针的需求。ACCRETECH UF3000 Prober以高达200 mm/s的速度提供高达300 mm的晶圆行程,提供高速测试性能和精确的精度。晶片可以穿入螺纹到试剂的真空单元中,从而进行密封测试和精确的晶片对准,同时消除潜在的气体泄漏和污染。其独特的伺服控制机还允许UF 3000 Prober将晶片精确定位在测量的活动区域内,以达到最精确的结果。UF3000 Prober还配备了先进的集成高分辨率成像工具,用于识别晶圆表面上的缺陷和缺陷。它适合于容纳各种类型测试的探针和夹具,并且可以与集成的Auto Alignment Asset结合使用。这使得TSK UF3000 Prober可用于多种测试应用,如亚微米晶圆探测、LED模具探测、多种电气测试、纳米加工和雾化。ACCRETECH/TSK UF3000 Prober是各种半导体制造和测试环境的宝贵工具。其强大的设计和与电机驱动的3轴级运动的集成为精确、可重复的测试提供了可靠的解决方桉。其独特的集成成像模型进一步提高了缺陷识别和验证的可用性。ACCRETECH UF 3000 Prober具有相当高的准确性和可重复性,可在实验室环境和生产现场提供精确、优化的测量结果。
还没有评论