二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9357332 待售

ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober是一种高性能的半导体探针测试设备，设计用于在晶圆器件组件上进行电气测试。系统利用XYZ运动台将探针卡定位到安装在舞台上的晶片组件上。探针卡由机械臂控制,机械臂将其移动到相对于设备的位置。TSK UF 3000具有用于精确控制探针卡位置的多通道模式识别技术。ACCRETECH UF3000的探测速度非常快，即使在最苛刻的测试条件下也能保持高精度。该单元具有广泛的探针和附件，以满足各种测试应用。它具有用于检测任何给定设备中的短故障和打开故障的内置故障检测和隔离功能。此外，UF3000有一个内置的校准和测试程序库。此库包含可以直接下载或上载到计算机的测试参数和数据。ACCRETECH UF 3000有两种电测量模式。第一种模式是稳态测量，包括在设备中插入适当的探头，捕获其电压和电流信号，然后进行时域和频域分析，并显示测量结果。第二种模式是瞬态测量，它是用一个专门的探头进行的，该探头在设备运行的不同阶段捕获设备的电压和电流信号。捕捉到瞬态后,它们将被分析并显示在工具的液晶屏上。ACCRETECH/TSK UF3000还提供了广泛的诊断选项,包括现场软测试、非晶圆浅沟隔离测试和无创目视检查。在软测试模式下，探针卡用于测量器件晶片形式的电气参数。浅沟隔离测试可以检测设备内部在常规电气测试中经常遗漏的故障。这种测试是以无损的方式进行的，需要极少的努力。最后，无创视觉检查可以用来检查装置组装前后的结构。UF 3000旨在最大限度地减少操作员干预,并最大限度地提高测试效率。其探针卡设计为最大限度地利用样品，减少测试时间。该资产还具有自动信号分析和故障检测功能，大大减少了手动测试的需要。它内置的远程控制功能使用户能够轻松地从任何地方访问和监视测试模型。此外,它还具有可扩展的数据管理设备,用于存储所执行测试的结果。总体而言，TSK UF3000 Prober是一种先进可靠的测试系统，能够对各种晶圆组件进行高性能测试。它内置的特性和功能使其成为各种应用程序的理想测试解决方桉。