二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9410147 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 3000
ID: 9410147
Wafer prober Control system Hard Disk Drive (HDD) Floppy Disk Drive (FDD): 3-1/2" Magneto optical drive Head stage Single FOUP port for 25 wafer, 8" -12" Manual wafer inspection transfer unit Dual robotic wafer transport arms Per-alignment stage unit Advanced wafer alignment unit Dual (X and Y) Heidenhain scales Quad pod Z stage LED Color control panel Touch panel switches Alarm lamp pole (Blue / Orange / Green) (3) Fixed trays Inspection tray LC40-12 Nickel cold chuck Chiller unit: -40°C to 150°C.
ACCRETECH/TSK UF 3000是一种prober装置,设计用于测试和测量各种半导体材料的性能。利用其精确的光学激光束检测,测量电线和电路的电阻,提供了高度精确的测试和测量结果。TSK UF 3000采用多向XY扫描阶段,可以拧紧或松动以符合所测试材料的确切规格。方程和设置是可调的,以确保精确的测试和监测。这进一步得到了prober重量轻但坚固的结构的支持,以及它在操作时实现高速的能力。ACCRETECH UF3000还具有二极管桥电路、内置16位ADC以及各种电阻器和电容器,使其能够精确检测电线、电路和材料的电阻和介电特性。ADC设计为具有耐热性能,可进行广泛的动态测量。该系统还配备了高灵敏度和可调探针,包括开尔文探针、锥体和A/XP探针,进一步增强了其能力。为了进一步确保准确的读数和结果,ACCRETECH/TSK UF3000采用了热近似色变换(HACT)算法和运动估计原理。HACT算法可以精确测量温度和电阻,即使在难以检测材料的情况下也是如此,而运动估计原理显着减少了测量时间,使样品探测速度更快。最后,TSK UF3000还由高性能、低成本的PC备份,用于通过基于Windows的程序控制Prober。此程序允许轻松监控、设置调整和数据存储,帮助用户促进高效、准确的测试和测量操作。总而言之,UF 3000是测试和测量各种半导体材料的理想装置,提供精确准确的结果。
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