二手 ACCRETECH / TSK UF 3000EX-e #9211360 待售

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ID: 9211360
优质的: 2017
Wafer probers Chuck type: NI Single loader OCR Card changer Hot chuck, 8"-12" Chuck controller temperature range and accuracy: Ambient to hot X, Y Position accuracy Pin to pad alignment Fail mark inspection Needle alignment Auto needle height setting Color LCD display Bump height setting Wafer mapping capability Needle inspection GP-IB RS232 Color display and touch screen No off site marking and TTL 2017 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000EX-e自动prober设计用于测试和检查晶圆级设备。Prober提供精确的测试模式生成、高速晶圆级探测以及参数测量的有效性能。TSK UF3000EX-E可以测试半导体、微机电系统(MEMS)、薄膜晶体管(TFT)、薄膜电容器(TFC)、有机发光二极管(OLED)等多种器件。Prober可以在高精度检测模式下以每小时150段的速度检查多达100毫米的晶片,允许快速精确的测试。ACCRETECH UF 3000 EXE可以通过其高级Z轴扫描系统(AZS)检测中型到小型缺陷。AZS能够检测晶圆器件的大小I/O,以及桥接、浮动和不存在相邻器件。因此,它可以检测到信噪比的细微变化。在进行测试时,prober可以识别问题并通过软件采取纠正措施。Prober还支持Remote Distribution System,它允许半导体工程师使用智能手机操作和修改模式。此外,ACCRETECH UF 3000EX-e可以使用实时数据传输系统在安全的环境中方便地与各种设备共享测试结果。TSK UF 3000EX-e prober提供准确高效的结果,同时确保平稳运行。它有一个集成的设计,允许prober保持数据连续性,即使设备被关闭,prober也结合了技术和先进的软件,使它在测试中提供增强的可靠性和可重复性。它的参数波动监控使用户能够在测试编号进行过程中快速检测到可能出现的问题。此外,该探头采用自动金刚石探头保护器,有效防止探头磨损。而且,接触力传感器产生精确的结果,给工程师准确可靠的测试结果。UF 3000 EX-E prober是任何寻求可靠高效prober以高速率进行晶圆测试的公司的理想选择。低维护要求和坚固的结构,prober可以提供准确的结果,并确保一个平稳的测试体验。
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