二手 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9166353 待售

ACCRETECH/TSK UF 3000EX Prober是一种半导体测试设备,用于评估各种半导体器件的电性能。该系统采用扫描探针显微镜（SPM）、微量计量、干涉测量和激光处理解决方桉的组合，使用户能够精确测量和分析半导体结构、组成和电性能。该单元能够执行多种功能，如高速晶圆探测、探针卡测试、SPC数据收集以及其他高级测试和分析操作。机器装有自动晶片处理工具，用于将晶片输送到交换负载端口。该负载端口使晶片能够以受控的方式交换，而不会造成污染或损坏。TSK UF3000EX Prober还配备了多功能、多模式功能。这允许用户定义自己的环内和环外测试组合，如接触分析、电气参数、电路表征和SPC数据收集。该资产还具有一系列创新的软件包,使用户能够自定义其prober测试,包括配置不同的测试条件、创建自定义测试程序和轻松分析数据的能力。ACCRETECH UF 3000 EX Prober也有激光切割和扫描的集成激光源。这使用户能够准确测量、切割、阵列或扫描半导体表面上所需的区域或活动。此外，该模型还具有高频测量能力，便于在极高频率信号下进行测试，最高可达10GHz次。TSK UF 3000EX Prober是用于半导体测试和测量应用的理想解决方桉，其SPM、微量计量和干涉测量的结合为表征和评估各种半导体器件提供了准确可靠的方法。用户还可以利用设备快速有效地处理大量数据，同时利用其激光综合源进行激光活动。