二手 ACCRETECH / TSK UF 300A #9189902 待售

ACCRETECH/TSK UF 300A是为测试和测量半导体样品而设计的先进prober设备。该系统为晶体管和集成电路的测试提供了更高的准确性和可靠性。TSK UF300A利用Alpha-Numerical Controller （ANC）提高控制和测量精度。它配备了8英寸彩色液晶显示器，为prober的操作提供视觉指导。ACCRETECH UF-300A还配备了数据分析接口（DAI），以启用数据分析和具有复杂样本的交互式设备测试。ACCRETECH UF300A设计有一个High Palatial Residency （HPR）,它能够产生自动化的测试条件,以便对小型和大型样本进行探测。它还配备了内置真空卡盘，以将样品固定到位，防止探测过程中移动，并确保最佳测试分辨率。UF300A提供522.5 x 298 mm的优化探测面积,最大坐标分辨率为0.25 um。通过其最小化热路径（MTP）特征确保了UF 300A的精度。此功能有助于在测试和测量过程中保持恒定温度,从而减少来自设备的信号漂移和噪声。此外,UF-300A还提供了一种非接触式探测机构,它允许在不施加探针力的情况下测试高达50毫米的非导电样品。这减少了由于接触或机械作用力而损坏被测试样品的风险。该机还配备了Query Short Laser beam和Back Scatter Auto Focus功能，以提高非接触式探测的精度。TSK UF-300A具有面向自动化和易用性的软件包。它使用一系列算法进行编程,以方便测试和测量过程。此外,它还支持多种编程语言,包括Visual Basic、C#和LabVIEW,为自动化提供了灵活性。UF 300 A是用于测试和测量各种半导体样品的高效和先进的工具。它为各种测试目的提供了改进的控制、准确性和可靠性。