二手 ACCRETECH / TSK UF 300A #9363119 待售

ACCRETECH / TSK UF 300A
製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 300A
ID: 9363119
优质的: 2001
Wafer prober 2001 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 300A是一种用于精确测量和分析各种半导体元件特性的仪器。它是一个全自动单元,使操作员能够快速准确地对不同大小和类型的集成电路进行各种各样的测试。这种方法允许以高度的准确性和精确度收集测试样本和数据。该单元还能够测量和分析复杂的、规模较小的集成电路中无法与其他探针探测的缺陷。此外,测试过程可以在低电压和电流水平下完成,从而消除了许多与高压测试相关的风险。测试仪能够测量和分析表面电阻,这对于识别有缺陷的IC往往是至关重要的。另外,该单元允许测量接触电阻和压阻变形测量,以及电容、电感,甚至实时波形验证。此单元设计用于晶片级和设备级物理特性和测试。此外,根据样品类型和测试要求,TSK UF300A配备了高温或低温试验室。这适用于各类测试要求,包括测量高密度、低功耗器件的电、热、机械、磁性等。此外,ACCRETECH UF-300A还配备了数据库查找、室内库、可用数据库创建和补充,甚至自动数据库搜索等功能列表。此外,其简单的设置和直观的操作系统被设计为能够方便地从prober的内置数据库中获取数据。总体而言,UF 300 A是一种高度通用的探测器,设计用于测量和分析晶圆级和设备级物理特性。该处理器非常适合测试集成电路,因为它能够进行精确的测量,并且能够在低电流和低温下执行各种测试。此外,它的数据库能力和直观的操作系统使其易于使用,并进一步提高其效率和准确性。
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