二手 ACCRETECH / TSK UF 300A #9363120 待售

ACCRETECH/TSK UF 300A是一种专为小型零件的精确、高精度探测和测试而设计的处理器。它能够探测和测试尺寸在0.3到100毫米之间的部件。TSK UF300A具有先进的测量设备,可精确检测和响应1 μ m精度的探测器变化。适用于广泛的探测测试应用，包括模具控制、故障分析、过程控制、非接触式测量。ACCRETECH UF-300A的测量系统由一个高精度、计算机控制的阶段、若干探头持有者以及一系列可定制以适应各种测试场景的测试框架组成。舞台工作面积大，可达200毫米x 200毫米，定位精度为1 μ米。高度精确的舞台运动是由高分辨率线性伺服电动机和非接触线性和角度编码器驱动的。这样可以在整个表面进行精确定位和无缝探测。探头支架能够精确控制探头尖端，提供探头尖端位置精确、可重复调整、多个探头安装、探头力精确调整等特点。测试框架提供了精确且可重复的测试场景，并允许从顶部或侧面进行单次移动探测，以及多层次和多角度探测。UF 300A还具有独特的智能探测和测量单元,可精确执行自动、非接触式测量。它使用SPM（扫描探针显微镜）、LFM（大视场显微镜）、AFM（原子力显微镜）的非接触、非操纵式3 D探测方法，测量步高、薄膜厚度、表面粗糙度、锥角等各种零件和表面参数。这使得TSK UF-300A可以用于模具控制、故障分析、过程控制和非接触测量等各种应用中。ACCRETECH/TSK UF-300A还具有许多用户友好的功能,包括大型液晶显示屏、易于使用的图形用户界面（GUI）和一系列可选软件包。GUI允许方便的数据输入和编程，可选的软件包提供额外的测试功能。最后,ACCRETECH/TSK UF300A是一种用于小型零件精确、高精度探测和测试的测试仪,具有先进的测量机器,能够以1 μ m的精度精确检测和响应探针的变化。ACCRETECH UF 300 A凭借其非接触式探测和测量工具、用户友好的功能以及可选的软件包，适用于广泛的探测和测试应用。