二手 CASCADE MICROTECH / ALESSI S 300 #9313815 待售
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ID: 9313815
Semi-automatic probe station, 12"
Model no: S300-753-HT
Nickel plated tri-axial vacuum chuck, 12"
(2) Integrated auxiliary stages
A-Zoom2 Microscope: ~1000x
FEMTO Guard electrical performance
Micro chamber
Illuminator
Anti vibration system
Wafer loading support with roll out chuck
Ambient temperature controller: ~200°C
Probe card holder: Micro-chamber version
Hard Disk Drive (HDD) included
PC Control
Joystick controller
No air chiller unit.
CASCADE MICROTECH/ALESSI S 300是一种用于集成电路或其他微电子器件的电气测量的高性能探测器。该探测器能够提供快速、准确的晶圆探测和测试服务。Prober是为满足大容量用户的要求而设计的,提供高达100MHz的测量频率。它具有先进的机器人操作和精密的控制系统,用于精确的定位和测量。它采用模块化结构,可扩展和定制,以满足您的应用程序的特定需求。该prober采用集成的自动对准系统和触摸传感器,具有可重复的精度.它的全自动工作流程可确保同时对多个设备进行一致和高效的测试。它还提供了一个自动化的示例安装和探测序列,因此操作员无需手动调整卡盘并平移每个示例安装之间的操作。Prober兼容种类繁多的探针卡和测试插座,使其适用于广泛的电气特性和探测应用。探针卡适配器还可以支持各种足印尺寸和配置,以最大限度地提高测量精度。prober的伺服驱动探针运动允许对垂直和水平平移级进行无穷变量和可重复控制。这样可以更精确地测量和更快速地测试小节点,而无需手动调整探针卡。Prober强大的机器人晶片处理和CMM风格的样本分期功能提供了更快、更准确的探测结果。该处理器还包括一个可选的样品温度控制器和软件,用于自动晶圆热水器-膨胀补偿。总体而言,ALESSI S300 prober为大容量IC探测和测试应用程序提供了高度可配置和可靠的测试工具。它具有快速、精确和可重复的测试功能,加上模块化设计,使其成为满足高级测试需求的理想解决方桉。
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