二手 CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 11000 #9255340 待售

ID: 9255340
Manual wafer prober With RF microwave wafer chuck, 6" Wafer chuck travel: X-Y Travel: 203 mm x 203 mm with 0.1 um resolution Z Travel: 5 mm with 1 um resolution Large area bridge mount: X Axis travel, 6" (±3" from center of travel) Y Axis travel, 8" (±4" from center of travel) Linear manual Z-lift, 3" Microscope: (2) A-Zoom microscopes Bright field illumination Eyepiece viewing with MITUTOYO WF 10X/24 eyepiece lenses Single objective slider with MITUTOYO MPLAN APO 10x objective lens Internal CCD camera Includes: Vibration isolation workstations Probe positioners (RF and DC) Triax / BNC connector panels Vacuum connector panels Coaxial and tri-axial cables Microscope optics Thermal fluid Probe card holder insert assembly.
CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 Prober是用于以精确和速度分析半导体器件的线路IC测试和表征平台的顶部。该单元由行业领先的两家公司ALESSI和CASCADE MICROTECH制造,由于其优越的性能、易用性和完整的功能集,成为市场上最受欢迎的测试和表征系统之一。ALESSI Summit 11000具有可编程平台,可高度配置,使用户能够快速准确地测试设备。它的可编程平台具有多个操作参数,可以调整以适应各种各样的设备类型和大小。此外,CASCADE MICROTECH Summit 11000支持广泛的数据采集、信号调节、分析和设备质量控制功能。Summit 11000的核心是一个10µm分辨率,50GHz频率指示器。该探测器能够对器件特性进行高度精确的测量,如晶圆阻抗、电容和小信号响应时间。它还为设备表征提供了广泛的支持,包括DC、AC、动态和冲击测试。该单元还配备了多种软件,便于对数据进行操作和分析。软件中包含的许多功能都是可自定义的,使用户能够快速准确地创建深入的设备分析报告。CASCADE MICROTECH/ALESSI和ALESSI也以模块化方式设计了该系统,以确保该系统可以很容易地更新和定制,以满足用户的所有需求。总体而言,CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 Prober对于那些希望获得非常准确、可靠且易于使用的测试和表征工具的用户来说是一个理想的解决方桉。它具有广泛的特点以及尖端的数字技术,使其成为任何严肃的IC测试和表征设施所必需的。作为市场上首屈一指的产品之一,ALESSI Summit 11000是帮助确保半导体器件质量和可靠性的宝贵工具。
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