二手 CASCADE MICROTECH Wafer probing station #293751293 待售
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ID: 293751293
晶圆大小: 8"
8"
Vacuum wafer chuck, 8"
(2) TPI 200 Manipulators
TPI 100 Manipulator
Fiber optic illuminator
(2) GGB INDUSTRIES 34A Pico probes
(2) GGB INDUSTRIES 12CS Pico probes
PRECISION TPI 100 Lead screw
SEIWA PS-888L High magnification scientific microscope
Microscope lift delay adjustment
PSI 400 LS Series Lift
US MICROSCOPE Analytical microscope
CCD Camera adapter
Manual.
CASCADE MICROTECH晶圆探测站，又称prober，是一种精密的设备，设计用于在制造过程中测试和分析半导体晶圆。晶圆探测站使工程师和技术人员能够在晶圆上直接对集成电路进行精确的电气测量,然后再将其切成单独的模具。这允许识别电路中的任何缺陷或不规则性,从而确保在最终产品中仅使用功能性组件。CASCADE MICROTECH晶圆探测站配备了先进的技术和功能，能够对晶圆进行高精度探测和测试。该探头由一个精确对准级组成，它以微米级精度将晶片定位在探头下方。这样可以确保探针与半导体器件上正确的垫片接触以进行精确的测量。晶圆探测站的一个主要特点是它的多用途探测站.Prober可以容纳不同尺寸的晶片，直径可达300 mm，并且可以探测晶片的正面和背面。这种灵活性允许用户测试范围广泛的半导体器件，从小型集成电路到大规模的片上系统设计。CASCADE MICROTECH晶圆探测站还配备了多个探头，通常由钨或其他高导电性材料制成，与半导体器件上的垫片接触进行电气测量。这些探头是弹簧加载的，以确保与垫片的可靠接触，即使在不均匀的表面或扭曲的晶片上也是如此。晶圆探测站除了具有精确的探测能力外,还具有先进的测量和分析软件.该软件允许用户设置自定义测试序列，自动控制探测过程，实时分析测量数据。该软件还提供了统计分析、数据记录和报告生成选项,使工程师能够轻松解释和共享他们的发现。CASCADE MICROTECH晶圆探测站的另一个重要方面是自动化能力。Prober可以集成到全自动测试系统中，允许在用户干预最少的情况下对多个晶片进行高通量测试。这种自动化降低了人为错误的风险，提高了测试过程的效率，使其成为大容量半导体生产环境的理想选择。总体而言，晶圆探测站是寻求验证其集成电路性能和质量的半导体制造商和研究机构的有力工具。Prober具有精确探测功能、通用探测选项、高级软件功能和自动化功能,可帮助简化测试过程并确保半导体设备在广泛应用中的可靠性。
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