二手 Custom Probe Station #9004454 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 9004454
Probe Station
Steel base plate 20" x 20" x 1/2"
Brinkmann stages used in probe position settings
(3) Probe supports with micrometer adjustment for the X and Y axis
Z axis has course and fine adjustment knobs for height adjustment
(3) Probes with a fine angled tip for electrical contact probing has a shielded coaxial cable connected
Centrally located sample support stage, 4-3/4" x 4-3/4" under a Bausch & Lomb zoom microscope
This stage has a micrometer for the X and Y position adjustment and the ability to be rotated about 45 degrees to the right and left
Bausch & Lomb Stereo Zoom 5: Zoom range: 0.8x to 4.0x
(2) 20x WF eye pieces
Vacuum test plate, no vacuum pump comes with the unit
Plastic vacuum line and a switch for connecting or removing the vaccum is mounted on the base plate
Light source iincluded (no mounting rods).
Prober又称定制探测站，是一种用于测试和测量电子元件电气特性的高度先进的技术。探测站通常由一个带多个探针的真空密封腔室组成,每个探针都可以独立瞄准被测设备（DUT）的特定区域。此外，它通常包括一个可以调整的平台，以适应设备的尺寸、形状和电气特性。定制探测站的主要目的是测量和分析DUT的电气特性。这包括测量电路的电流、电压和电阻，以及测量设备的温度和热特性。探头，一般是精密仪器，也可用于测量其他参数，包括信噪比、电压噪声、测试速度、功耗、漏电电流和稳定性。使用Prober探测是使用半导体prober进行的。这台机器可以被编程为探测整个设备的各个区域，提供对设备性能的宝贵洞察。例如，探测可用于调查开关关闭或打开时间、设备阻抗以及功率损耗和耗散。探测后，可以产生DUT的图像进行视觉分析。除探测外，探测站还可用于进行人工老化测试、ESD测试、示波器测试、压降测试、电流-电压关系测试、热测试、光学显微镜等测试。它也可用于生成图形，以帮助比较设备操作。此外,还可以保存测试结果并将其上载到数据库以供将来分析。定制探测站还为客户提供可靠的筛选和高级测试程序。例如,可以对测试进行编程以查找设备上的异常,例如短路。当检测到有故障的组件时,可以设计自定义测试过程来识别和鉴定故障,并且可以更换该组件。总体而言,Custom Probe Stations是非常有用的工具,用于测试和分析各种应用程序中电子元件的电气特性。它们非常可靠、准确且可定制,能够提供对设备性能的宝贵洞察。
还没有评论