二手 DCG SYSTEMS D-Prober #9224944 待售

製造商
DCG SYSTEMS
模型
D-Prober
ID: 9224944
Prober with ZEISS Supra 55 Field emission scanning electron microscope (FESEM) (6) Probes Loadlock Optimizer Heat stage KEITHLEY Parametric analyzer not included 2011 vintage.
DCG SYSTEMS D-Prober是一款高端Prober,其设计目的是在从半导体工程到平板显示器诊断的各种应用中实现速度和精度的复杂动态过程分析。D-Prober是一种多功能设备,利用先进的机器人技术和先进的视觉算法,在高吞吐量系统中快速获取高分辨率图像。该系统具有高分辨率的X-Y级,可以自动对准探针和晶片。该级也可用于较大的晶片和/或基板,使其成为较大面积测量的理想选择。DCG SYSTEMS D-Prober还具有精确的Z轴,为自动探测提供了卓越的位置控制和精度。该单元还包括一台设计为最大限度地减少探头与基板之间气隙的超低型机,确保了最高精度和可重复性。D-Prober能够进行高密度探测,同时处理多达10个探测器。它包括几个特性和过程,以帮助提高探针精确接触的概率,如智能预接触传感过程,补偿预对准以确保探针与晶圆具有相同的对准,对准传感器以确保探针的精确对接,以及用于优化路由和高速测试的灵活的过程流工具。资产配备了可靠的视觉和视觉自动化组件,以提高流程性能,例如3D视觉,用于精确测量扩散层、晶圆边缘和接触点。它还包括用于增强图像处理、图像分析、图像到运动映射以及自动校正对齐过程的嵌入式软件。DCG SYSTEMS D-Prober配备了强大的探针控制模型,使其适合极端环境,如变温、低或高真空、高冲击和振动。它还能够进行复杂的过程控制,例如控制参数测试和可靠性测试的电压水平。与其他技术先进的探针相比,该设备具有高度环保和节能的特点,因为D-Prober设计为绿色且不浪费能源。它也有能力与各种各样的基板一起工作,从纤薄的晶片到大的基板,使其适合不同的工程和生产应用。总体而言,DCG SYSTEMS D-Prober是一个专门的Prober系统,旨在以最高的精度和速度实现准确的过程分析和测试。它具有先进的机器人技术、精确的定位控制、高分辨率成像、视觉自动化、强大的过程控制和环境友好性。D-Prober越来越多地用于从半导体工程到平板显示器诊断的应用,是高效可靠探测的理想单元。
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