二手 ELECTROGLAS 1034XA #123638 待售

ELECTROGLAS 1034XA是一种用于通过物理接触测试和分析生产中集成电路的先进仪器。1034XA可实现快速接触探测,从而减少总体测试时间、提高产品质量和提高产量。它以高度可靠的设计和尽量减少停机时间和操作员培训时间来满足大批量生产的需求。ELECTROGLAS 1034XA设计用于关键部件的高精度测试。它采用先进的Z轴设计,可实现一致且可重复的垂直运动,实现精确的接触对准和探头到垫板的位置精度。1034XA包括一个定制的专利引脚对准设备,可确保每个表面安装接触探针在发生电接触之前正确对准。该系统还支持引脚调整,允许在同一块板上使用不同的引脚配置。ELECTROGLAS 1034XA设计用于精确、高速的接触探测。它提供了最小的接触力，减少了机械损坏正在测试的设备的可能性。1034XA具有高达75 kHz或100 kHz的高通量,可提供快速的测试周期和出色的测试覆盖范围。ELECTROGLAS 1034XA还具有同时或顺序协调多个探针的能力，以提高吞吐量，每个模具的测试周期更少。1034XA还有一个板载视觉单元,可以在测试过程中检查探针接触的针脚,并提供额外的反馈,用于添加其他校正,例如额外的探测以校正故障。此功能还提供了进一步优化和定制测试程序的潜力。ELECTROGLAS 1034XA还具有一些方便的功能，如自动调平机，以简化探针加载和移除的过程。Prober还与广泛的夹具、元件和测试系统兼容，使其易于集成到现有的生产过程中。1034XA还可与自动处理程序和射频测试仪配合使用，以实现精确的测试可重复性和吞吐量，满足大批量生产的需要。综上所述，ELECTROGLAS 1034XA prober是一种可靠、高性能的集成电路测试分析工具。其先进的Z轴设计可确保精确的接触对准和定位,以及用于检查针脚接触的板载视觉工具。1034XA支持高速接触探测,具有最小的接触力和协调的多次探测,以实现快速的测试周期和出色的测试覆盖范围。Prober还与各种夹具、元件和测试系统兼容，可以很容易地与自动化处理程序和RF测试程序集成，用于精确测试和吞吐量。