二手 ELECTROGLAS 2001XA #9170435 待售

ELECTROGLAS 2001XA Prober是一种先进的半导体晶圆探测设备，能够探测到300 mm的半导体晶圆。构建在强大的2001X平台上,2001XA包括高级诊断、软件和探测功能,使其成为芯片制造商处理较小晶圆和较高模数的理想选择。ELECTROGLAS 2001XA具有电气和物理探测臂,允许用户在触发电气测量之前精确定位和接触晶片上的单个模具。2001XA的高级设计进一步允许使用两种类型的探针-接触式和非接触式。接触探针允许通过使用专用探针来分析模具的物理特性，例如模具厚度。非接触探测允许晶圆电路的电气特性。ELECTROGLAS 2001XA Prober在探测大型晶片方面提供业界领先的重复性和准确性。它还设计和构建了可扩展性和易用性。2001 XA的Probe Control Software （PCS）允许用户在晶片和模具尺寸之间快速切换,并保持对探测过程本身的严格控制。ELECTROGLAS 2001XA也与2001XA-U真空夹紧系统兼容，允许晶片在探测过程中直接真空接触。这减少了在探测过程中晶圆断裂的机会，并确保了更高质量的结果。ELECTROGLAS 2001XA具有广泛的诊断功能。先进的溷合信号诊断将其置于大多数其他探针的更高级别。该单元的高速瞬态存储器允许分析每个晶圆超过1100万个瞬态样本。光学反射仪可以检测二维和三维模具表面拓扑，提供更好的接触保真度。2001XA的高级算法也在晶圆级检测到从模具到模具的参数不匹配和电路性能。综上所述，ELECTROGLAS 2001XA Prober是一种用于测试和探测半导体晶片的先进机器。它提供高级功能和内置诊断。它还具有极好的可扩展性,专为易于使用而设计。