二手 ELECTROGLAS 3001 #9071364 待售

ELECTROGLAS 3001 Prober是一个专门用于半导体故障分析（FA）应用的测试平台。这种最先进的系统具有紧凑、完全集成的设计,易于设置和使用。3001能够自动探测任何大小或类型的设备,包括Wire Bond、Flip Chip和Microtromechanical Systems （MEMS）。它具有坚固的结构,具有很高的可靠性、灵活性和可扩展性。ELECTROGLAS 3001 Prober专为高生产率而设计,并提供多种功能帮助用户最大限度地提高测试效率。其主要特点之一是长期稳定，无论温度或湿度长期变化如何，都能纠正样品未对准的问题。它还提供自动调焦和数字变焦选项的能力。此外，它还具有通过程序宏控制X-Y-theta级的能力，这使得在不同探针卡之间切换更加容易。3001的不同部件包括基站、绝缘工作台、可变探针、X-Y-theta级以及其他各种关联电子设备。基站包含控制系统、硬件和软件。绝缘工作台确保用户和被测设备的安全。可变探针允许探测各种类型的设备。X-Y-theta级为测试提供了精确、可重复的运动控制，减少了设置时间，提高了精度。最后，使用相关的电子设备，如电源、信号放大器和示波器来解释测试过程中得到的信号。ELECTROGLAS 3001 Prober为极高的精度和鲁棒性而设计。它具有自动校准过程,可帮助确保在多个测试周期中保持一致的性能。它也非常适合进行电源验证测试,因为它能够测量电源读数的微小变化。此外,3001 Prober还配备了特殊的自动化功能,可快速、高效地排除被测设备（DUT）的故障。最后,ELECTROGLAS 3001 Prober是一种通用可靠的半导体故障分析工具.其紧凑的设计和自动化功能有助于快速设置和高效的测试操作。3001 Prober具有长期的稳定性和先进的功能,为测试各种设备提供了理想的解决方桉。