二手 ELECTROGLAS 3001X #9201995 待售

ELECTROGLAS 3001X是一种用于实现半导体模具和器件电气测试过程自动化的处理器。它与机器视觉系统结合用于晶圆探测，用于表征和测试。3001X是一个基于模块化和可扩展体系结构的全自动平台。它为精密螺距探测提供了精确的运动控制和精度，具有较低的高速扫描热特性。ELECTROGLAS 3001X prober被设计为提供最高级别的性能和优越的能力范围，加上创新和灵活的设计特点。配备标准功能的3001X,例如二维运动、双样本交换和自动视觉驱动进纸器加载。它为晶圆测试、半导体模具测试和完整的数据管理提供了高度自动化。ELECTROGLAS 3001X与IBMs iProbeCobasys和California Instruments TPA2等自动晶圆测试系统配合使用。此外,prober可以与任何客户指定的机器视觉系统配合使用。3001X是为降低测试成本和提高测试效率而设计的。它的模块化体系结构促进了晶圆探测标准的发展。Prober提供了显着的成本节约优势,并通过增加生产吞吐量最大限度地缩短了整个探测过程中的处理时间。它可以提供双向、全景和无间隙扫描，以便对每个接触点进行自动测试。Prober可提供多达33个晶片的样品容量,并具有针对电气测试系统开发进行优化的占用空间。ELECTROGLAS 3001X还设计了GEM,一种具有图形用户界面（GUI）的操作系统。此GUI可用于执行简单的命令行、未对齐校正以及流程控制的反馈。使用GUI,用户可以轻松直观地定义测试程序格式。Prober也被设计为高精度、重复性和分辨率高达两纳米。此外,3001X还可以精确地适应多个电气探针的设计.它具有隔振的SMA移动器设计,可提供机械刚度和分辨率性能,以及坚固的无偏移移动器设计,可改进垂直传动和Z轴冲击保护。最后,ELECTROGLAS 3001X提供全面的支持,包括升级路径、远程服务、在线服务和服务网络。它还为模具处理、晶圆分选、设备表征和自动测试等应用提供全面支持。3001X是半导体器件以及工艺开发和生产的理想选择，因为它提供了先进的探测技术，具有无与伦比的性能和灵活性。