二手 ELECTROGLAS 3001X #9216751 待售

製造商
ELECTROGLAS
模型
3001X
ID: 9216751
Wafer prober.
ELECTROGLAS 3001X prober是一种多用途晶圆prober,旨在满足各种测试要求。它具有28槽DUT板、多激光级对准系统、多板测试优化以及最大吞吐量。3001X prober的总行程范围为160 mm,最大样本量为50 mm,可为各种基材和晶圆尺寸提供最大的测试覆盖范围。Prober具有先进的软件驱动运动控制系统,可用于精确和可重复的操作。先进的晶片处理系统可确保在接触晶片上的设备时使用适当的力。Prober配备了针对特定应用的标准探针和定制探针。声学或机械探针可用于探测DUT板上多达100个探针。ELECTROGLAS 3001X prober提供各种测试选项和测量功能。其嵌入式自动测试系统(ATS)提供诊断和故障数据分析选项。Prober能够测量从DC到>20GHz,并且可以提供各种应用,包括宽带、窄带和宽带+IF。可选的主板允许用户扩展功能,以测量最多16位的模拟和数字性能指标。3001X prober还提供了完整的机械减重测试解决方桉。该处理器包括硬件和软件,旨在机械地减轻晶片的重量,从而提高晶片的产量和可靠性。ELECTROGLAS 3001X prober是大批量制造和测试应用的理想选择。它易于使用,具有很高的准确性和可重复性,可用于各种测试场景。其卓越的性能和可靠的操作使其成为任何测试环境的宝贵补充。
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