二手 ELECTROGLAS 3100X #9248180 待售

ELECTROGLAS 3100X prober是一种高度先进的晶圆探测设备，旨在帮助先进的半导体器件测试和开发。3100X为诸如高速DRAM、处理器和ASIC等复杂产品提供高精度和高速测试能力。该系统基于ELECTROGLAS快速可靠的XYZZ探针运动单元，提供可靠的定位精度和较短的测试时间。ELECTROGLAS 3100X通过结合晶圆级测试技术和自动化的最新进展提供可靠和可重复的测试结果。该机器通过其先进的电晶片级测试，包括电流、电容和ACIV测试，以及其独特的角度探测能力，实现了可靠的测试。3100X能够快速、准确地测试内存、微处理器、ASIC和其他集成电路设备。ELECTROGLAS 3100X具有晶片定位器，可以精确、重复地定位晶片批次和可靠的晶片负载。该工具还支持先进的晶圆照明以获得最佳能见度。此外,3100X还采用了功能强大的软件,可最大程度地减少光子散粒噪声,提高测试的准确性和可重复性。此外,资产支持低压探针接触,确保保持较小的探针接触力。这使介电滞后效应最小化，接触寿命最大化。这允许对所有类型的半导体器件进行可重复和准确的测试。由于集成了运动控制模块和高分辨率晶圆探测设备，该模型还提供了高通量和高精度测试。ELECTROGLAS 3100X具有扩展的探测区域,可在大型晶片批次上运行.该系统还为所有类型的晶圆测试提供可靠的数据采集。此外,3100X还提供了改进产品质量的高级晶圆和IC诊断。最后,采用电化学和MEMS计量系统支持ELECTROGLAS 3100X进行晶圆和IC综合测试.3100X具有高精度和卓越的速度,非常适合检查复杂半导体器件的开发、测试和生产。