二手 ELECTROGLAS 4001 #192465 待售

ELECTROGLAS 4001
製造商
ELECTROGLAS
模型
4001
ID: 192465
Probers.
ELECTROGLAS 4001是专为半导体表征、晶圆排序和屈服分析而设计的高性能prober。探测站为精确定位晶片提供了高精度空间。它由水平花岗岩基座和机构组成,驱动它在X-Y-Z。基于弹簧加载悬臂的探测系统可容纳直径达200毫米的所有晶圆。它在X-Y飞机上有一个实质性的8英寸行程,并且有127毫米的Z行程,以方便放置精度所需的微调。4001还具有顶部安装的XY表,允许探针尖端精确移动到探针卡的高阻抗环境中。XY表允许将不同的探针卡手动或自动放置在要测试的区域上,使其成为测试半导体模具操作的理想工具。ELECTROGLAS 4001具有可调节变焦功率的高分辨率数码视频显微镜。该显微镜可用于观察晶片上的微小点,并用于对准无压力接触探针,使信号质量损失最小。显微镜还有许多数字图像存储和操作选项。此外,它还具有从10℃到40℃的可调温度范围。需要设置温度,以最大程度地减少热膨胀并最小化任何元件发生故障的可能性。温度使用PID控制精确控制,精度高达±0.1℃.4001还具有非常重要的位置感应特征,有助于将接触探针精确放置在晶圆上。位置感测使用外部编码器(类似于驱动机器人系统的编码器)来计算探针尖端的精确X、Y和Z坐标。ELECTROGLAS 4001还有几个内置的安全特性。这些安全功能包括一段时间后自动关闭、紧急停止和紧急紧急情况开关、双备用供水和紧急联络点。总体而言,4001是为各种半导体测试应用而设计的高性能、可靠的处理器。其高精度、坚固的构造和可靠的安全特性保证了它将有助于提高测试操作的质量和速度。
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