二手 ELECTROGLAS 4080X DCM2 #9181221 待售

ELECTROGLAS 4080X DCM2 prober是一种高度精确和精确的自动化精密探测工具，用于测试和测量半导体器件，如集成电路（IC）和其他微电子器件。它设计用于探测和测试过程，有助于确保结果的准确性和可重复性。4080X DCM2利用先进的双坐标测量（DCM）技术来精确测量不同的参数,包括临界尺寸、接触电阻和IC中的电流泄漏。探针卡站包括自动校准和调节，使机器易于设置和操作。Prober还配备了高配准功能，如精细对准传感器和临界尺寸工具，有助于保持结构和探针卡之间的精确配准。该工具还具有先进的模式识别和运动控制系统，有助于确保探测过程的准确性和一致性。系统还包括非接触式探针提示选项,允许用户使用不同类型的样本,而无需重新组装工具。ELECTROGLAS 4080X DCM2还能够每秒执行25-300次高速测量周期，使其适合测试各种小型IC。该系统也非常可靠，提供了良好的准确性，使其能够用于一系列的设备测试应用。总体而言，在测试和测量IC和其他微电子器件时，4080X DCM2 prober是一个极好的选择。双坐标测量技术以及先进的模式识别和运动控制系统所实现的高精度、高精度的探测过程使其成为广泛应用的可靠和值得信赖的选择。