二手 ELECTROGLAS 4080X #293594833 待售

製造商
ELECTROGLAS
模型
4080X
ID: 293594833
Prober Temperature: 98°C - 100°C.
ELECTROGLAS 4080X Prober是一种高精度、自动化的探测设备,设计用于在各种样本量、材料和层上产生精确的晶圆测试结果。该系统能够在单个单元中测试数字和模拟IC以及射频和电源设备。4080X Prober由用于样品移动和放置的光学对齐XY/Theta级、用于样品处理的XYZ/Theta臂和高功率显微镜(可用光学器件为10 x和40 x)组成。此外,该机器可扩展,最多可有四个运动轴,以满足额外的探测需求,并且设计用于方便地设置和处理纳米级探针。通过最先进的设计,ELECTROGLAS 4080X Prober消除了操作员的猜测,显着提高了探测精度。该工具具有直观的用户界面(UI),允许快速、无故障地安装和运行测试作业。UI包括详细识别作业参数、快速简便的设置参数、可编程探测速度、步长和扫描功能以及自动锁定和校准功能的配方显示。还有一些先进的内置算法可以针对热漂移和其他环境影响进行调整。4080X Prober的高精度探测是利用其纳米级探针阵列实现的,提供了最高精度和可重复性。探头是使用先进的材料和技术构造的,以确保精确的测量,并且有一系列的配置可以满足不同的测试要求。ELECTROGLAS 4080X Prober专为长期生产性能而设计,可靠性高,适合各种网络应用和技术进步。该资产支持行业标准测试环境(ATE),并且与各种硬件配置选项兼容。为了与现有硬件兼容,Elecroglas 4080X Prober具有支持各种网络、软件和硬件平台的高级通信接口。此外,还提供了一系列测试软件选项,以进一步提高其专门的测试能力。ELECTROGLAS 4080X Prober模型是一种先进的高精度探测解决方桉,可为许多不同类型的应用提供可靠性和准确性。它是为长期、持续的性能而设计的,其先进的技术确保了对各种测试条件的一致采样。该设备的可配置和可升级设计为将来的测试需求提供了灵活性和可扩展性,使其成为多种类型测试环境的绝佳选择。
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