二手 ELECTROGLAS 4090 #9231745 待售
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ELECTROGLAS 4090 prober是一种先进的晶圆探测设备，在集成电路（IC）的制造中提供自动晶圆处理和测试。设计用于精确测量接触电特性和器件几何参数，精度高，重复性好。4090基于单载波静电显微镜（EFM）技术,该技术使用探测器网格来测量微小的电力。该系统是完全自动化的，旨在可靠地测量各种几何样品，包括接触芯片、晶体管和透硅共振（TSVL）。Prober与任何手动或微操纵器兼容,或使用Field-crogrammable Gate Array （FPGA）进行prober扫描头兼容。这种强大的功能使设备能够准确检测设备上单个触点的小电压变化。例如，它可以在小到一英里的高度可靠的装置中检测到几毫安的电流泄漏。ELECTROGLAS 4090 prober配备了全方位的精密定位装置和精密控制器。机器可以根据要测量的特性来编程选择不同的测量技术。它还具有一个自定义扫描选项,允许以灵活的速度从任何兴趣点获取数据。此外,该工具还包括一个高分辨率激光干涉仪,用于精确扫描,具有严格的公差.它还包括一个空气承载级，以确保平稳移动与快速和精确的对准。该资产支持多种高级软件功能,如多维对齐、测试时间优化、关键参数分析和探针定位,使其适合晶圆测试和原型设计。4090还提供电接触特性、接触角计量、污染检测、纳米处理等多种先进测量能力。它有一个专门的环境室，可以调节温度和湿度，以延长prober的光学元件和接触垫的寿命。ELECTROGLAS 4090 prober的设计符合当今集成电路生产线的苛刻要求。其高度精确的测量能力、高效的自动化能力和创新的软件使其能够减少晶圆测试时间并提高吞吐量。
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