二手 ELECTROGLAS 4090 #9233875 待售
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ID: 9233875
Wafer prober
Chuck type: Hot chuck ambient
Temperature: Up to 130°C
Chuck assembly: Gold
Operating system: MS-DOS
Base pneumatic assembly
Chuck-top
Pre-aligner assembly
T-Arm assembly
Indexer assembly
A6
A13
VM: OCR and Optics bridge camera controller unit
MHCM: A14B PCB Board
Missing parts:
IDE / Hard Disk Drive (HDD) and Floppy
Joystick assembly
Power supply
No material handler control boards
No monitor
No chuck forcer
No PCM boards
Assembly:
Main power supply
Chuck-top (Gold / Silver)
EG Monitor
Operator control panel (Joystick assembly)
DCM:
Floppy A3
Hard disk drive A2
Power supply (PS1)
A1 Pentium board, 200 MHz
A1A1 Digital communication board
A1A2 Ether link communication (Network interface)
A1A3 Audible alarm / (2) Lamp drivers
A1A6 Marvels (2)
Power supply: 200/230V.
ELECTROGLAS 4090是一种在半导体晶圆探测中提供高级控制和精度的prober。该探头适用于高速并行测试，标配安全高度调节、激光对准、触摸探头功能。4090的安全高度调节功能采用了先进的空气轴承技术和用户可调节的气压。这提供了比接触式探针更高的准确性、可靠性和可重复性。此外，它简化了调整和维护，并减少了环境振动对测量的影响。Prober还配备了激光对准设备，提供比传统机械方法更高的精度和重复性。该系统由两轴激光干涉仪和两个集成定位级组成。它可以精确测量低至5微米的探针到晶片的距离,从而在测试缺陷时实现更严格的公差。ELECTROGLAS 4090有一个集成的触摸探头单元,可自动测量图样或特征。它配备了五轴控制环路、先进的可编程控制器、触摸探针组件和自动装卸工具机。Prober还配备了一些配件，以进一步定制其用途。其中包括一个EDGE™品牌的高度计、一个边缘检测库、一个焊料厚度扫描仪和一个吸尘器。这些功能在各种晶圆探测测试中提供了更高的准确性和效率。总而言之,4090是专为自动测试而设计的高性能处理器。它适用于各种应用，为用户提供安全的高度调节、激光对准和触摸探针功能等优点。利用一套全面的附件和先进的技术，这种探针能够在半导体晶圆探测中达到最高精度和可重复性。
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