二手 ELECTROGLAS 5300e #200853 待售

ELECTROGLAS 5300e是一种prober,一种精密测试工具,用于集成电路组件的电气测试。它是为高级半导体器件的高精度、高速探测而设计的，以确保它们正常工作，并将在未来的操作中继续这样做。5300e能够提供以下功能：晶片凸起探测、设备表征、缺陷分析、密集阵列的电气测试和故障分析。Prober配备了尖端显微镜，使操作员能够清晰地看到半导体器件的极小连接。ELECTROGLAS 5300e是一款高速微定位器，具有两步、低噪声步进电机驱动。微定位精度和可重复性在1mm行程1 μ米以内。该设备的设计还可以为低体积/低探针密度应用提供更高的精度。微定位器支持多种传感器类型，包括电容传感器、机械传感器和光学传感器，实现了广泛的探针卡和prober配置。5300e配备了完全由软件控制的XYZ Stage，包括双独立的z轴，可用于瞄准非对称晶圆级别和组件。这两个Z轴级都具有Anti-Backlash螺母组件,可提供卓越的定位精度。三区温度系统可确保活动区和非活动区保持精确、一致的温度,同时通过防止过热确保样品寿命长。Prober配备了多种晶圆处理系统，包括自动弹出装置、直通机构、盒式磁带和精密加载夹具。ELECTROGLAS 5300e还包括一个四轴、4线开环步进电机和闭环电机控制单元，以实现晶圆、器件和其他元件的精确、定时和可重复移动，用于精确和可靠的器件表征测量。该机还支持各种探测模式，如高速、高精度、低压探测。5300e提供了广泛的数据分析和诊断工具,以确保最兼容和可靠的结果。高级软件功能（如ProLog和Badger View）允许用户快速分析设备的性能特性,以及本地化测试故障和排除设备故障。Prober数据管理功能还支持轻松的数据检索和prober脚本控制。ELECTROGLAS 5300e是为抵御极端的工作环境而打造的,具有防尘和防液外壳以及温度控制环境。集成的安全系统,例如Ensemble的固态继电器,可防止因电气故障而造成的潜在危险。资产还包括用于校准和诊断的高级使用点工具,以及其他各种复杂功能。5300e prober提供无与伦比的准确性、可靠性和性能,使其成为测试先进半导体器件的绝佳选择。