二手 ELECTROGLAS / EG 1034XA-6 #9097866 待售

ELECTROGLAS/EG 1034XA-6 Prober是一种高度先进的多用途prober设备,在处理高密度半导体晶圆材料时提供极高的精度和灵活性。EG 1034XA6 Prober每小时可测试多达760个晶圆,并采用专利的高级Wafertree6路由阵列晶圆处理系统进行设计。这种革命性的路由阵列单元使ELECTROGLAS 1034X-A6 Prober能够以极高的精度和高速精确测量晶圆上的多个接触点。与其他晶圆探针不同，1034XA6 Prober有一个可调装载室，有四个可调的穿梭雪橇和一个穿梭雪橇调平器，以容纳任何尺寸的晶圆。该探头还包括一个精密的晶片探针卡测量站，能够以无与伦比的精度同时测量多达800个接触点。EG 1034XA-6 Prober还包括一个安装在转子上的晶片卡盘以及一个用于远程控制所有操作的以太网链路。EG 1034X-A6 Prober专为极高的可靠性而设计,采用最新的晶圆处理技术,可处理直径不超过12英寸的晶圆。Prober还具有复杂的策略编辑器,使用户能够对基于规则的操作进行编程,从而使计算机能够根据收集的数据做出决策。此外,ELECTROGLAS 1034 XA-6 Prober还具有复杂的反冲功能,可防止在处理复杂晶圆模式时出现prober错误。此外,1034 XA-6 Prober还包括许多诊断功能,如光学缺陷映射、时间估计和热映射工具,可帮助用户识别潜在的晶圆问题。探头还包括一个超声波清洁设施，以确保探测时的最高水平的清洁。最后,ELECTROGLAS/EG 1034 XA-6 Prober提供了多种自动性能检查,使评估和验证结果的准确性变得更加容易。ELECTROGLAS/EG 1034 XA 6 Prober是一款极为先进的机器，设计用于在处理高密度半导体晶圆材料时提供极高的精度。ELECTROGLAS/EG 1034XA6 Prober具有可调节的装载室、精密晶片探针卡测量站、先进的Wafertree6布线阵列、超声波清洗功能以及大量的自动性能检查,是测试和测量各种晶片材料的完美解决方桉,精度和可靠性无与伦比。