二手 ELECTROGLAS / EG 2001 #293659202 待售

ELECTROGLAS/EG 2001 prober是一种主要设计用于半导体集成电路（IC）测试的专用工具。它在半导体公司中用于晶圆测试结构和IC的手动探测。该装置将精密晶片处理设备与直观的、多轴可调探头结合在一起，使其适用于手动和自动测试。EG 2001 prober由一个基本单元、一个垂直探头和一个水平探头组成，全部安装在稳定的平台上。基座单元包含主电子和伺服电机，控制探头的垂直和水平运动。探头由几个可调触点组成,这些触点允许将不同的探头卡加载到系统中。每个探针卡都包含一组预加载的探针,这些探针的角度很细,可以精确探测IC。垂直和水平探针卡均由基本单元中的控制器驱动。每个控制器都有两种模式，手动和自动，允许手动或自动探测IC。在手动模式下，操作员可以调整探头的垂直轴和水平轴，以手动方式访问晶片上的测试点。在自动模式下，操作员可以对一组指令进行编程，以便单元在探测每个IC时遵循。ELECTROGLAS 2001 prober配有触摸屏界面，为操作员提供探针与IC接触时的视觉反馈。计算机还具有企业级软件包,允许远程监视prober的状态和指标。此功能允许技术人员远程修改测试参数,从而节省时间和精力。总体而言,2001 prober是寻求可靠、准确的探测器测试站的半导体公司的理想解决方桉。该设备将精密晶圆处理工具与可调探针触点、触摸屏界面和精密软件结合在一起，使操作员能够快速准确地排除IC故障。这种直观的设备能够在操作员的努力下优化晶圆探测操作。