二手 ELECTROGLAS / EG 2001CX #9172345 待售
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ID: 9172345
晶圆大小: 8"
Wafer prober, 8"
Disk based
Gold plated chuck, 6"
OLYMPUS SZ30 Microscope
Eyepieces: GSWH 20x / 12.5
MELLES GRIOT Laser
Configured for:
Automatic wafer load
Automatic wafer alignment
Automatic wafer measurement
Automatic wafer test / sort.
ELECTROGLAS/EG 2001CX Prober是一种计算机控制的测试和测量设备,设计用于电子测试高技术半导体器件样品。它配有一组探针,每个探针都连接到被测设备的一个插座/连接器/针脚。可以根据特定设备的参数和物理要求自动配置和调整探测。该系统能够进行晶圆探测、样本探测、大型设备探测、高温探测、模拟测量以及并行和串行数据传输。该仪器能够收集和分析最高速度为1 500万个样本/秒的数据,一次可传输多达1 600万个参数。Prober的数字输入/输出通道具有高带宽的可编程逻辑电路(PLC)。这些用于控制探测序列,可以很容易地调整以提供更高的速度和精度。驱动器的放大器电路放大输入信号,优化探测功率和精度。内置的驱动电路可以检测和处理各种设备和电压。人性化的触控界面,配有16英寸彩色液晶显示屏,让操作流畅直观。该设备包括高级测试和测量软件,非常直观,使用简单。数据可以在各种图形和绘图中轻松查看、处理和分析。软件提供各种测试和分析工具以及预设,使探测过程快速高效。软件还可以以各种硬件格式(VME、PCI等)读取/写入。该单元还配备了继电器卡,允许机械和电气开关,以便同时控制和切换探头。它具有出色的温度稳定性和坚固的内部机器结构,允许稳定、精确、可重复的测试,且误差或降级最小。该仪器具有完整的安全认证,包括GFCI和EMC认证。它的重型和全金属外壳以及触摸灵敏控制按钮确保了可靠性和耐用性。Prober是半导体元件、IC和板级测试电气测试的理想工具,在快速精确的测试中提供无与伦比的结果。
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