二手 ELECTROGLAS / EG 2001CX #9243023 待售
网址复制成功!
单击可缩放
ID: 9243023
优质的: 2000
Prober
Microscope arm
OLYMPUS Low power scope
Chuck type: Gold chuck top, 6"
Ring carrier type: Rectangular probe card holder without holder
Vision module type: COGNEX Auto align-PRM 2
Auto align: CCD Camera
Table type: PT-201 High boy table
Hot chuck
Monitor type: LCD
Operator console
Monitor console
Inker / Edge sensor box
NCES Profiler
Material handling
2000 vintage.
ELECTROGLAS/EG 2001CX是由EG Corporation开发的用于半导体工业商业用途的先进产品。它专为高速、晶片和模具的自动探测而设计,特别是用于较小的几何形状或低功耗应用。它能够探测到每秒1400针,精度为1微米。Prober使用了一系列先进的光学、电气和机械元件来精确测量和表征集成电路芯片上测试电路的电气特性。EG 2001CX prober具有为高速测试量身定制的多种重要功能。首先,它具有自动XYZ定位设备和多位置晶圆处理程序,可提高吞吐量。Prober配备了高速计算机控制的晶片级,能够精确、可重复地对准晶片和模具到载荷板。此外,ELECTROGLAS 2001 CX prober还具有先进的光学系统和激光二极管对准单元,以及用于模具和模式识别的集成视觉机。除了自动XYZ定位和晶圆处理外,ELECTROGLAS 2001CX prober还能够对接触电阻和电容进行精确测量。它拥有一个12位分辨率的计算机控制信号处理器,以及一个多功能接口芯片,允许更容易和更准确的测量。处理器还具有多种测量模式,包括漏电电流和瞬态。EG 2001 CX prober的先进特性使其能够以极高的精度探测元件和芯片。2001 CX prober还设计用于在各种环境和应用程序中的可靠操作。它的工作温度范围为0至50摄氏度,也设计得足够健壮,可以全天候运行。此外,Prober还配备了一系列安全功能,包括内置的紧急关闭开关和安全锁定开关,可防止Prober意外激活。总体而言,2001CX prober是一种用于集成电路测试和表征的高度先进的商业工具。它具有自动XYZ定位和晶片处理、高级光学元件以及精确测量功能,非常适合测试小几何形状和低功率应用。其坚固的设计还允许在广泛的工作环境中进行可靠的操作。
还没有评论