二手 ELECTROGLAS / EG 2001CX #9260446 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001CX
ID: 9260446
优质的: 1995
Prober Microscope arm OLYMPUS Low power scope Chuck type: Gold chuck top, 6" Ring carrier type: Rectangular probe card holder without holder Vision module type: COGNEX Auto align-PRM 2 Auto align: CCD Camera Table type: PT-201 High boy table Hot chuck Monitor type: LCD Operator console Monitor console Inker / Edge sensor box NCES Profiler Material handling 1995 vintage.
ELECTROGLAS/EG 2001CX是一种计算机控制的晶片探测器,设计用于通过探测操作检查和测试高精度电子和光子器件。它有一个以陶瓷为基础的底座和一个开放的设计,以达到最大的可及性。该设备支持使用多个头部配置,并设有30位校准板,以最大限度地提高测试处理的灵活性。Prober基座设计为移动和倾斜,以适应不同类型的测试设备。这允许访问具有不同高度级别的大型测试设备,最大可达2450 x 1150 mm。它还具有从+5°到-20°的可调倾斜范围,以容纳更大的设备。此外,2001CDX还有一个带有图形用户界面的触摸屏和一个范围为+/-50 mm的线性定位系统。这提供了x、y和z轴上的一系列高精度运动。该单元能够处理直径可达300 mm的晶片。它具有自动晶片装载机,能够自动对准、卸载和背面探测晶片。此工具还提供了一种"教学"模式,使用户能够根据自己的特定生产需求定制资产。该2001CDX还具有先进的光学居中模型,可提供0.1mm至1mm范围内的偏心居中方桉。该2001CDX配备了晶片管理器I/O (WMIO)技术,用于自动晶片调度和跟踪。该技术提供了库存、历史记录和过程控制交互的在线设备。该系统还提供对单元控制器的安全访问,并包括一个集成的网站,用于通过Web浏览器进行远程操作。Prober能够进行多头配置,其中包括两个用于边缘探测的磁头、一个用于透晶片探测的磁头、一个用于电气接触探测的磁头、一个用于微定位的磁头以及其他一些特殊功能。该机还可以容纳多种测试配件,如光学、微定位阶段、高速数据采集系统、定制探头等。2001CDX工具支持多个晶圆处理塔,为同时处理多个晶圆提供了灵活性。单个手动定位或自动晶圆处理塔可与资产一起使用,最多可容纳四批晶圆进行测试。该模型还包括探针卡设计和诊断站,为增强的测试环境提供多个测试信号路径。
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