二手 ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9155108 待售

ELECTROGLAS/EG 2001CXE是为高性能半导体晶圆探测而设计的探测设备。它提供了从0.6mm螺距CSP到4,400万细螺距球栅阵列的IC器件的全面晶圆接触测试。该系统能够在150 mm、200 mm或300 mm晶圆上测量多达4个数字、2个模拟或1个电源设备。该单元与标准探针卡高度兼容，允许使用成本较低的Mini-CardTM和大面积接触器组件。该机采用先进的操作工具，确保了晶圆的精确放置，并提供了高度的运动控制精度。运动控制资产具有晶圆高速X-Y运动和高精度压电驱动Z轴运动的能力。它还具有4轴校准和校正复杂晶圆错位的功能。该模型提供了许多选项,使用户能够自定义和微调其测试环境。它包括一个晶圆停止设备提供精确和一致的晶圆位置和空气轴承晶圆温度控制。它还包括一个高速晶圆预采样计时器，精确控制采样加载时间，以提高吞吐量和工艺优化。此外,系统还提供了一个可选的位置超限设备,以防止超限和损坏。EG 2001CXE还提供各种适合用户特定测试环境的软件选项。它包括一个图形用户界面（GUI）以提供对设备的完全控制,以及一个集成的CAD导入计算机,以允许对测试数据进行节省时间的设置和分析。此外,该工具利用Reflection Series数据采集资产提供高端数据采集功能,为测试和数据分析提供更快的周转时间。该模型完全符合行业标准（包括SEMI标准）,并具有较长的产品生命周期以提高可靠性。该设备的设计考虑到耐用性,配有增强的机柜和耐用的机械部件。它还具有低振动水平、温度稳定性和可变温度干燥。最后,ELECTROGLAS 2001 CXE是一种先进的高速螺旋桨,专为IC器件的晶圆接触测试而设计。它为用户定制和微调测试环境提供了许多独特的功能和选项,并且完全符合行业标准以提高可靠性。