二手 ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9260443 待售

ELECTROGLAS/EG 2001CXE是EG製造的高效能扫描探头。它设计用于测试、调试和筛选晶圆级半导体晶片的电气特性。EG 2001CXE可用于晶圆级探测、最终测试操作和不同晶圆尺寸的高级工艺评估。该设备具有高精度的半导体卡盘和超精度级技术，使其适合广泛的应用，从小批量的技术开发到大规模的器件生产。Prober具有10.4英寸彩色液晶平板显示屏,能够显示晶圆图像。它有一个精密的软件套件,具有直观的图形用户界面,允许用户快速轻松地配置探测器、优化测量参数、控制测试流程以及查看和管理测试结果。整个系统由一个计算机控制站、一个馈通单元、线性级和晶片卡盘、prober XY电机级、多轴运动控制机和探针卡组成。Prober配备了ServoAxis运动控制,可提供全自动光圈、对准、探测和测试操作,并以纳米为增量提供可重复的精度。Prober还有一个真空工具，包括一个带集成真空泵的歧管腔室、真空计以及适当的阀门和管道。这种真空资产保证了整个晶片卡盘的牢固真空抓地力，以防止晶片倾斜和晶片运动。该方法还包括安全性和提高产量的冗余特性。这包括双电源、扫描线、探针卡和I/O端口。该模型还提供对发动机部件参数的实时监控，以确保最佳性能和最大限度地减少停机时间。它还配备了智能校准设备，可以跟踪传感器的状态并快速检测任何未对准情况。ELECTROGLAS 2001 CXE是各种灵活测试解决方桉的理想载体,无论是用于开发、制造还是仓库维修。它具有一系列高级功能,使其能够提供更高效、更准确的探测,非常适合各种晶圆测试或设备评估项目。