二手 ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9260444 待售

ELECTROGLAS/EG 2001CXE是一种精密探测器,设计用于测量和检查集成电路（ICs）.适用于将IC连接到探针，在晶圆上测试IC，以及在各种应用中使用IC。EG 2001CXE的动态分辨率高达0.001 µm,可提供快速准确的测试结果。Prober的架构类似扫描电子显微镜，具有紧凑的平台和独特的空气轴承设计。Prober具有高级自动化系统,使其能够在很短的时间内完成复杂的任务。ELECTROGLAS 2001 CXE包括多个标准特性，包括两个探头、一个探头检查室、一个手动数据输入的数字键盘、一个真空晶片卡盘、一个数字读出系统和一个高分辨率的光学拾音头。集成放大器允许用户调整信号的增益和偏移量。此外,探头具有可调节的探头高度,可针对不同的应用对其进行优化。2001CXE还配备了平板液晶显示屏,能够显示不同类型的测量数据,以及正在测试的晶圆的实时图像。这样可以对检查过程进行实时检查和监测。Prober还具有高级软件,可以将其配置为自动测试IC的特定部分,以及在一个批中测试多个晶片。EG 2001 CXE使用最新的精密力学和运动控制技术,为测试IC提供了完全自动化的解决方桉。集成软件提供实时分析,允许用户快速识别和解决故障或差异。此外,prober与最新的IC设计和引脚网格阵列（PGA）芯片组兼容,确保其准确可靠。2001 CXE是测试和检查IC的强大而可靠的工具。Prober的独特特性和功能为用户提供了一种经济高效且可靠的测试和检查各种应用程序中的IC的方法。ELECTROGLAS 2001CXE具有先进的自动化系统、高分辨率和快速的测试速度,是IC测试和检查的绝佳选择。